Analytický skenovací elektronový mikroskop s fokusovaným iontovým svazkem

Předmět plnění:
- dodání, instalace a zaškolení pro práci (včetně aplikačního školení) na FIB-SEM mikroskopu s iontovým svazkem vybaveným analytickými metodami EDS a in-situ indentací
- Load-lock systém pro vkládání vzorků bez narušení vakua v hlavní komoře
- čištění komory pomocí plazmového výboje
- možnost navigace po vzorku pomocí optického snímku nebo širokoúhlého elektronového obrazu (zabírající kruhovou oblast s průměrem alespoň 50 mm)
- plně motorizovaný stolek s alespoň pěti osami, včetně plné rotace (360°) a naklánění (minimálně v rozsahu -30° až 90°)
- blíže viz příloha

Hodnoticí kritéria:
- nabídková cena váha kritéria 90 %
- nadstandardní volitelné příslušenství váha kritéria 10 %

Lokalita:
- okres Plzeň-město

Termín:
- dle zadávací dokumentace